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如何快速评估2.5D Interposer DDR信号串扰
Interposer作为HBM 2.5D集成的核心结构,通过TSV提供垂直互联大大缩短了连线长度,而且可集成不同工艺的芯片,不受工艺节点的限制。
2021-02-22 |
Interposer
,
DDR
,
信号串扰
怎样实现模型快速QA自动化
本文通过使用芯和半导体的快速无源器件建模工具iModeler,介绍了一种对IC无源器件进行快速QA验证的方法。
2021-02-22 |
QA
,
自动化
TmlExpert – 传输线建模和仿真工具
• 多种传输线模板快速建模计算 • 快速的3D FEM 和2D 求解器提供了更好的解决方案 • 3D 视图功能使模型检查更轻松直观 • 方便地将模型和设置导出到HFSS • 使用SnpExpert 工具显示S 参数和TDR 等曲线
2021-02-22 |
TmlExpert
,
芯和半导体
,
TDR
采用IRIS软件进行工艺角与温度扫描分析
本文介绍了采用芯和半导体IRIS软件来进行集成无源器件仿真分析,配合工艺角与温度扫描模块,快速了解工艺状况和器件随工艺变化特性,对器件精确建模有较大指导意义。
2021-02-22 |
IRIS
使用Hermes SI和SnpExpert进行SiP封装仿真
本例采用Xpeedic芯和半导体Hermes SI工具对SiP基板进行仿真验证。针对SiP设计提供仿真的工具Hermes SI, 可以导入多种版图文件,包括brd,sip,mcm和ODB++等,如此丰富的文件转换接口使其兼容目前市场上绝大多数的Layout设计软件。
2021-02-22 |
Hermes SI
,
SnpExpert
,
SIP
,
封装
,
仿真
CableExpert – 电缆建模和仿真工具
线缆组件是网络系统中的关键构件组件。 线缆的精确建模正在成为实现多兆位数据速率和保证信号完整性的必要条件。 用于10G / 40G / 100G以太网中的SFP和QSFP接口的双轴电缆就是这样的例子。
2021-02-22 |
CableExpert
ViaExpert – 三维过孔模型抽取工具
ViaExpert提供了一种快速、准确的建模和仿真过孔的方法。它允许设计人员在预布局阶段快速构建过孔模型,并检查关键信号的信号完整性问题,包括差损、回损和串扰。它还允许设计者导入 Allegro 版图文件,进行过孔和trace 出线的后仿真分析。
2021-02-22 |
ViaExpert
,
Allegro
,
芯和半导体
如何利用XDS仿真与设计射频前端LNA电路
LNA(低噪声放大器)是通信、雷达、电子对抗及遥控遥测系统中的必不可少的重要部件, 它位于射频接收系统的前端,是无线通信的核心零部件,主要功能是对天线接收到的微弱射 频信号进行线性放大,同时抑制各种噪声干扰,提高系统的灵敏度。低噪声放大器作为无线 接收机前端的第一级有源电路,其噪声、,匹配等性能决定了整个接收机的整体性。
2021-02-22 |
XDS
,
射频前端
,
LNA
,
电路
SnpExpert – S参数处理和分析工具
产品介绍 Xpeedic SnpExpert提供了一种快速了解系统中无源互连器件电气特性的方法,不仅可以查看频域的S参数,还可以检查时域TDR信息。一键式差分对定义和受害/干扰源设置,以及内置的NEXT, FEXT, PSXT, ILD, ICR和ICN计算模块,有助于用户快速评估串扰特性。
2021-02-22 |
SnpExpert
,
Xpeedic
,
TOD
采用IRIS Plus软件进行滤波器EM仿真
本文介绍了采用Xpeedic芯和半导体的IRIS Plus软件来进行滤波器EM仿真的方法,能很好地协助电路开发人员快速高效地完成各个应用领域的无源器件设计。
2021-02-22 |
IRIS Plus
,
滤波器
,
EM仿真
PCB中无源结构的阻抗验证及优化
本文主要是提出了一种在后仿真流程中基于芯和半导体高速仿真工具对PCB中无源结构进行快速验证及优化的方法,可以极大地提高工作效率。
2021-02-22 |
PCB
,
阻抗
,
无源结构
用于SI签核的自动串扰扫描、阻抗扫描和DRC+
由于高速传输的数据速率和紧密耦合布线,高速 PCB 设计的串扰分析变得越来越重要。
2021-02-22 |
ADIsimRF
,
串扰扫描
,
阻抗扫描
,
DRC+
,
扫描
快速准确的玻纤效应建模和仿真
随着 SerDes 信道数据速率从 25Gbps 增加到 56Gbps 乃至 112Gbps,差分信号的 PN 偏斜要求 变得越来越严格。
2021-02-22 |
玻纤效应
,
建模
,
仿真
高速SI应用中的精确Dk / Df提取
本应用笔记介绍了在高速 SI 应用中对各种层压材料进行介电常数(Dk)和介电损耗(Df) 精确提取的方法。 TOD 去嵌算法和优化算法用于该 Dk / Df 提取流程。 由此得到的频变材 料参数模型可以用于市场上的任何电磁场仿真工具。
2021-02-22 |
SI
,
Dk
,
Df
兼容IEEE P370 S参数测量结果的去嵌和质量检查方法,适用于带宽高达50GHz的场合
本应用笔记介绍了一种极具竞争力的、兼容 IEEE P370 的 S 参数去嵌和质量检查方法,它适 用于带宽高达 50Ghz 的 S 参数测量值。这为 SI 工程师提供了一种快速简便的 S 参数后处理 和评估手段。
2021-02-22 |
S参数
,
带宽
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