产品介绍
Xpeedic SnpExpert提供了一种快速了解系统中无源互连器件电气特性的方法，不仅可以查看频域的S参数，还可以检查时域TDR信息。一键式差分对定义和受害/干扰源设置，以及内置的NEXT, FEXT, PSXT, ILD, ICR和ICN计算模块，有助于用户快速评估串扰特性。
产品特色
- SnpExpert可以快速查看S参数，并实现对于互连结构、连接器、封装、系统等器件的电气性能的分析。
- SnpExpert支持在频域和时域范围内绘制各种曲线。
- SnpExpert使串扰分析变得更加容易，支持快速设置攻击网络端口和受害网络端口，支持快速计算PSXT、ILD、ICR、 ICN和COM等指标。
- SnpExpert支持多种高速接口的规范检查。
- SnpExpert集成的TOD去嵌方法，支持各种夹具结构，包含2x Thru和1x Open、Short、Reflect；TOD去嵌算法通过IEEE P370规范验证。
- SnpExpert可通过S参数快速提取精确的Dk值和Df值。
- SnpExpert可快速查看S参数的质量，并检查S参数的因果性、无源性和互异性等指标。
主要功能
S参数质量检查
- 用图形显示S参数的因果性、互异性、无源性等指标。
- 支持在频域和时域内检查因果性、互异性和无源性。
- 支持修正S参数的无源性、互异性和因果性。
Thru-Only De-embedding(TOD)
- 内置TOD算法帮助SI工程师去除夹具的影响。
- 支持夹具的结构包含2x Thru和1x Open、Short、Reflect。
- 支持对多端口S参数进行去嵌。
在频域中画图
- S-, Y-, Z-参数, 差分S参数, Group delay, VSWR, 自定义函数。
在时域中画图
- 支持查看TDR、TDT。
- 支持计算单端通道与差分通道的对内和对外时延差。
高速通道分析
- 支持快速查看FEXT, NEXT,PSXT, ILD, ICN, ICR。
- 支持COM分析。
- 支持USB Type-C协议分析。
- 支持对DDR通道快速分析串扰等指标。
DK/DF提取
- DK/DF提取功能可以帮助工程师快速从测试的S参数中提取准备的DK/DF值。
- Optimization-based方法提取的DK/DF值与测试数据拟合度较高。
一键式生成报告
- SnpExpert 支持快速生成报告，包含Word/PPT/HTML等格式。
