S参数，也就是散射参数，原来主要用于射频、微波等高频电路设计。但是随着数字电路的高带宽化和高速率化发展，S参数开始被广泛用于高速数字电路设计，用于分析反射、串扰、抖动等信号完整性问题。Xpeedic SnpExpert作为业界专业S参数显示和分析工具，不仅方便用户查看系统的频域特性，包括S、Y和Z参数等，而且能快速显示时域TDR信息。一键式差分对定义和victim/aggressor设置窗口，加上内置的NEXT、FEXT、PSXT、ILD、ICR和ICN等计算模块，有助于客户快速评估系统串扰特性。不需要额外搭建电路原理图，就可以快速获得延时和skew值。内置的IEEE 802.3ap、802.3ba、802.3bj、OIF CEI 25G/28G、PCIe、SAS和SATA等标准有助于快速评估S参数是否满足设计要求。内置无源性、因果性、互易性和稳定性指标来分析S参数的质量，并且内嵌算法可以修正S参数上述问题。内置报告模板，自动将SnpExpert绘图转换成Word或者PPT报告。直通去嵌方法（Through-only De-embedding，TOD）可以帮助SI工程师移除测试夹具的效应，快速获得被测器件的S参数。支持多种Dk/Df提取方法，其中Optimization based Dk/Df提取流程所采用的优化算法可以根据所选择的的传输线类型自动提取Dk、Df和表面粗糙度的最优值。内嵌PAM-4眼图绘制功能，并且支持在Tx端或Rx端加入CTLE、FFE和FIR等预加重和均衡技术。
